[发明专利]多芯片互连系统无效
申请号: | 02819496.9 | 申请日: | 2002-10-03 |
公开(公告)号: | CN1565055A | 公开(公告)日: | 2005-01-12 |
发明(设计)人: | C·A·米勒 | 申请(专利权)人: | 佛姆费克托公司 |
主分类号: | H01L21/98 | 分类号: | H01L21/98;H01L25/065 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戈泊;程伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种多集成电路(IC)芯片组件包括基底IC芯片(82)与安装在基底IC芯片(82)表面上的次级IC芯片(84-86)。一组形成于基底IC芯片(82)表面上且延伸超出次级IC芯片的突出触点将基底IC芯片(82)的表面连接到印刷电路板(PCB)基板(98),其中次级IC芯片(84-86)存在于基底IC(82)芯片与PCB基板(98)之间。 | ||
搜索关键词: | 芯片 互连 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于将一集成电路(IC)多芯片组件互连到一基板上用于在其之间传送信号的方法,其中所述多芯片组件包括一具有一表面的基底IC芯片,并包括安装于所述基底IC芯片的所述表面上的至少一个次级IC芯片,所述基底IC芯片与所述次级IC芯片之间提供信号通路,所述方法包含以下步骤:a.将导电性触点提供在所述基底IC芯片的所述表面上,每一导电性触点具有一从所述第一表面向外延伸超出所述次级IC芯片的自由端;和b.将所述多芯片组件安装于所述基板上,使得每一触点的所述自由端与所述基板上的导体接触,并使得所述次级IC存在于所述基底IC芯片与所述基板的所述表面之间,其中所述触点在所述基底IC芯片与所述基板上的所述导体之间传送所述信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛姆费克托公司,未经佛姆费克托公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02819496.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造