[发明专利]用光电导采样进行的电压测量无效
| 申请号： | 02819555.8 | 申请日： | 2002-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN1564948A | 公开（公告）日： | 2005-01-12 |
| 发明（设计）人： | K·R·威尔希;F·霍 | 申请（专利权）人： | 恩普泰斯特有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光;李峥 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种探测电压的方法，包括：在被测导体和光电导开关的第一接线端之间建立电气连接；在采样间隔n内，施加激光脉冲到光电导开关，而相应于在前一采样间隔n－1的电压样本，施加电压到光电导开关的第二接线端输入，这样流经光电导开关的电流依赖于导体上的电压和所施加的电压之间的差；将电流转换为电压信号；在选通间隔内传导电压信号，并对所通过的电压信号进行采样，以得到采样间隔n内的电压样本。输入到导体的重复测试模式和采样间隔与重复测试模式同步。将电流转换为电压信号包括施加电流输入到其上升时间比选通间隔小的电流－电压转换器。只有在选通间隔期间，才可传递电压信号，因此，电压样本不受选通间隔之外任何通过光电导开关的泄漏的影响。在选通间隔期间，传递电压信号包括施加电压信号给晶体管Q1、Q2差分对的第一晶体管Q1，施加参考电压信号给晶体管差分对的第二晶体管Q2，并用电气开关控制晶体管差分对的公共发射极电流，以在电气开关闭合时传递电压信号。电压信号采样包括施加电压信号给模－数转换器，并使其准备表示导体上电压信号的数字样本。还提供了实现该方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用光 电导 采样 进行 电压 测量 | ||
【主权项】：
1.一种探测电压的方法，包括：a.在被探测的导体(805)和光电导开关(600)的第一接线端之间建立电气连接，b.在采样间隔n内，施加激光脉冲(705)到光电导开关(600)，而相应于在前一采样间隔n-1的电压样本，施加电压到该光电导开关的第二接线端，c.将流经光电导开关(600)的电流转换(610)为电压信号，d.在选通间隔Telec内传递电压信号(715)，以及e.对所传递的电压(725)信号进行采样，以便得到采样间隔n内的电压样本。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩普泰斯特有限责任公司，未经恩普泰斯特有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02819555.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：高分子型二苯甲酮光引发剂及其制备方法
- 下一篇：用于冷却和加热目的的压缩系统
