[发明专利]金属-绝缘体-金属(MIM)电容器结构及其制作方法有效
申请号: | 02820001.2 | 申请日: | 2002-10-08 |
公开(公告)号: | CN1568535A | 公开(公告)日: | 2005-01-19 |
发明(设计)人: | M·奥莱瓦恩;K·塞兹 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 崔幼平 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种金属-绝缘体-金属(MIM)电容器以及在集成电路(10)中制作这种结构的方法,采用沿着MIM电容器结构(12)中限定部位的一对腿(14)之间所确定的沟道(18)延伸的侧壁隔板(42)来改进MIM电容器结构(12)中的电容密度。每个腿(14)包括顶部和底部电极(38,30)和介于二者之间的一个绝缘层(36),以及面对沟道(18)的侧壁(40)。侧壁隔板(42)包括一个导电层(44)和介于导电层(44)与一个腿(14)的侧壁(40)之间的绝缘层(36),并且侧壁隔板(42)的导电层(44)与MIM电容器结构(12)的顶部电极(38)物理上分离开。还可以在上沉积用来减少电极氧化的绝缘层(36)之前对MIM电容器结构(12)的底部电极(30)进行氨水等离子处理。进而用一种多级速率蚀刻工艺来蚀刻MIM电容器结构(12)的顶部电极(38)和绝缘层(36),用第一快速率实施各向异性的蚀刻直至分别限定了MIM电容器结构(12)的顶部电极(38)和绝缘层(36)的导电和介电材料之间界面附近的一点,然后用第二慢速率实施各向异性的蚀刻直至MIM电容器结构(12)的底部电极(30)上所限定的一个蚀刻阻挡层(34)附近的一点。 | ||
搜索关键词: | 金属 绝缘体 mim 电容器 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种在集成电路(10)中制作金属-绝缘体-金属(MIM)电容器结构的方法,该方法包括:(a)在集成电路(10)中制作MIM电容器结构(12)的第一和第二腿(14),第一和第二腿(14)彼此大致平行地延伸并在二者之间限定沟道(18),每个腿(14)包括顶部和底部电极(38,30),介于顶部和底部电极(38,30)之间的绝缘层(36),以及面对沟道(18)的侧壁(40);以及(b)制作沿着沟道(18)延伸的侧壁隔板(42),侧壁隔板(42)包括导电层(44)和介于导电层(44)与第一腿(14)的侧壁(40)之间的介电层(46),其中侧壁隔板(42)的导电层(44)与顶部电极(38)物理上分离开。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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