[发明专利]用于测量眼睛型系统中的像差的设备无效
申请号: | 02820200.7 | 申请日: | 2002-08-12 |
公开(公告)号: | CN1568157A | 公开(公告)日: | 2005-01-19 |
发明(设计)人: | S·H·布库尔特;X·J·-F·莱维克 | 申请(专利权)人: | 想象之眼公司 |
主分类号: | A61B3/103 | 分类号: | A61B3/103 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;叶恺东 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明涉及一种用于测量眼睛型系统中的像差的设备,具体而言,其包括具有照明光阑(APT)的照明路径(VE)和检验路径(VA)、成像装置(L1)和相对于所述成像装置而定位眼睛的装置(VI)。发明设备亦包括:杂散反射过滤元件(FLT),其被居中于成像装置的测量轴(z)上;以及用于眼睛瞳孔与照明光阑的平面和检验平面的光学共轭的装置(L2、L3)。依照本发明,照明束路径收敛于过滤元件(FLT)的中心处。过滤元件、照明路径、检验路径和共轭装置都是相互依赖的并且被置于可沿轴z相对于成像装置(L1)而移动的平台(PTF1)上。照明光阑相对于测量轴(z)是偏心的,因此具体而言由成像装置(L1)反射的杂散光通量由过滤元件(FLT)从检验路径偏转。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 眼睛 系统 中的 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于测量眼睛型系统中的像差的设备,包括:照明路径,其具有明显的装置,用于透射照明束(FE)以通过眼睛视网膜上的反向散射来形成次级光源;以及分析路径,其在由所述次级光源发射并从眼睛出现的波的相位的给定分析平面(PA)中具有明显的检验装置,特征在于它进一步包括:成像装置(L1)和眼睛定位装置,具体而言,其使能定位所述成像装置的焦平面中的眼睛的预定平面,杂散反射过滤元件(FLT),其中心与成像装置(L1)的光学中心一起限定测量轴(z),基本上居中在眼睛的瞳孔上,光学分离装置(LM1),其被置于测量轴上并限定照明路径和分析路径,照明路径上的预定孔径的照明光阑,光学共轭装置(L2、L3),其被居中在测量轴上并使能眼睛的所述预定平面、照明光阑和分析平面之间的光学共轭,并且特征在于照明束基本上收敛于过滤元件(FLT)的中心处;在于过滤元件、照明路径、分析路径、分离装置和共轭装置是相互依赖的,其被置于沿所述装置的光轴(z)相对于成像装置(L1)可移动的平台(PTF1)上,使能针对眼睛的屈光异常来调节眼睛视网膜与过滤元件中心的借助所述装置(L1)的光学共轭;并且在于照明光阑相对于测量轴是偏心的,因此由眼睛角膜、成像装置(L1)以及位于过滤元件和角膜之间的任何照准仪反射的杂散光通量由过滤元件(FLT)从分析路径偏转。
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