[发明专利]光扫描装置

摘要

用于扫描信息层(2)的一种光扫描装置(1)包括用于提供第一辐射束(14)的辐射源(6)、具有光轴(oo’)的一个透镜系统(7)以及检测系统(8)，包括：(i)散光发生元件(9)，用于产生利用矢量(W_o，1，θ₁)代表的第一散光量(W₁)，以便将辐射束变换成第一散光辐射束(29)；(ii)散光校正元件(27)，用于产生利用矢量(W_o，2，θ₂)代表的第二散光量(W₂)，以便将所述第一散光辐射束变换成利用矢量(W_o，3，θ₃)代表的具有第三散光量(W₃)的第二散光辐射束(30)；以及(iii)检测器(28)，用于将第二散光辐射束变换成电信号。按照本发明，使W3适合于检测器，并且W_o，2和θ₂基本上符合以下公式：(W_o，1，2θ₁)+(W_o，2，2θ₂)＝(W_o，3，2θ₃)。

主权项

1.一种光扫描装置(1)，用于扫描信息层(2)，该装置包括：辐射源(6)，用于提供第一辐射束(4)；透镜系统(7)，用于将所述第一辐射束变换成所述信息层的位置中的扫描光点(18)，该透镜系统具有一个光轴(OO’)；以及检测系统(8)，包括：散光发生元件(9)，用于产生第一散光量(W1)，以便将所述第一辐射束变换成具有第一焦线(F1)和比所述第一焦线更加远离所述散光发生元件的第二焦线(F2)的第一散光辐射束(29)，所述第一散光量(W1)在垂直于所述光轴的一个参考平面(XY)内利用矢量(W0，1，θ1)来表示，其中Wo，i代表Wi的大小，而θi代表所述第一焦线与垂直于所述光轴的一个参考轴(X)之间的角度；散光校正元件(27)，用于产生第二散光量(W2)，以便将所述第一散光辐射束变换成具有第三散光量(W3)的第二散光辐射束(30)，所述第二散光量(W2)在所述参考平面内利用矢量(Wo，2，θ2)来表示，而所述第三散光量(W3)在所述参考平面内利用矢量(Wo，3，θ3)来表示；以及检测器(28)，用于将所述第三辐射束变换成电信号，其特征在于，使W3适合于所述检测器，并且Wo，2和θ2基本上符合以下公式：(Wo，1，2θ1)+(Wo，2，2θ2)＝(Wo，3，2θ3)。