[发明专利]过程流体中的材料浓度的测量有效
申请号: | 02821546.X | 申请日: | 2002-10-04 |
公开(公告)号: | CN1578908A | 公开(公告)日: | 2005-02-09 |
发明(设计)人: | 埃里克·R·勒韦格伦;马克·S·舒马赫;詹姆斯·A·约翰逊;库尔特·C·迪德 | 申请(专利权)人: | 罗斯蒙德公司 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00;G01N22/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 陈瑞丰 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种测量过程流体中的材料浓度的设备(100),包括:天线(115,120),配置用于与过程流体接触;以及脉冲发生器(210),与天线(115,120)相连,从而通过天线(115,120)产生微波发射脉冲。脉冲接收器接收来自天线(115,120)的反射脉冲,并且作为反射脉冲的函数,计算材料的浓度。 | ||
搜索关键词: | 过程 流体 中的 材料 浓度 测量 | ||
【主权项】:
1.一种测量过程流体中的材料浓度的设备,包括:天线,配置用于与过程流体接触;脉冲发生器,连接以配置天线,从而通过天线产生微波发射脉冲;脉冲接收器,与天线连接,配置的以接收来自天线的反射脉冲;以及浓度计算器,配置用于作为反射脉冲的函数来计算材料的浓度。
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