[发明专利]过程流体中的材料浓度的测量有效

专利信息
申请号: 02821546.X 申请日: 2002-10-04
公开(公告)号: CN1578908A 公开(公告)日: 2005-02-09
发明(设计)人: 埃里克·R·勒韦格伦;马克·S·舒马赫;詹姆斯·A·约翰逊;库尔特·C·迪德 申请(专利权)人: 罗斯蒙德公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00;G01N22/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈瑞丰
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种测量过程流体中的材料浓度的设备(100),包括:天线(115,120),配置用于与过程流体接触;以及脉冲发生器(210),与天线(115,120)相连,从而通过天线(115,120)产生微波发射脉冲。脉冲接收器接收来自天线(115,120)的反射脉冲,并且作为反射脉冲的函数,计算材料的浓度。
搜索关键词: 过程 流体 中的 材料 浓度 测量
【主权项】:
1.一种测量过程流体中的材料浓度的设备,包括:天线,配置用于与过程流体接触;脉冲发生器,连接以配置天线,从而通过天线产生微波发射脉冲;脉冲接收器,与天线连接,配置的以接收来自天线的反射脉冲;以及浓度计算器,配置用于作为反射脉冲的函数来计算材料的浓度。
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