[发明专利]过滤X射线束的设备有效
| 申请号： | 02821633.4 | 申请日： | 2002-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN1578990A | 公开（公告）日： | 2005-02-09 |
| 发明（设计）人： | 哈拉尔德·格拉夫;格哈德·沃泽尔 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G21K1/04 | 分类号： | G21K1/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 侯宇;陶凤波 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种过滤一X射线束(9)的设备(13)，其包括一个可由一处于所述X射线束(9)之外的停放位置(P)调整到一处于所述X射线束(9)内的过滤位置(F)的过滤器(15、16、17)。此设备(13)具有一个用于检测处于所述过滤位置(F)上的过滤器(17)的第一传感器装置(95、96、97)和一个用于检测处于所述停放位置(P)上的过滤器(17)的第二传感器装置(105、106、107)。在此设备(13)中，从辐射量的观点出发，能可靠地检测所述过滤器(15、16、17)的不利的错误位置。例如，当所述过滤器(15、16、17)既不处于其停放位置(P)也不处于其过滤位置(F)上时，发出一个操作人员可感受到的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 过滤 射线 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于过滤一X射线束(9)的设备(13)，其包括一个可由一处 于所述X射线束(9)之外的停放位置(P)调整到一处于所述X射线束(9)内的过滤位置(F)的过滤器(17)，其特征在于，所述设备具有一个用于检测处于所述过滤位置(F)上的过滤器(17)的第一传感器装置(97)和一个用于检测处于所述停放位置(P)上的过滤器(17)的第二传感器装置(107)。
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