[发明专利]在凹槽刻蚀之前通过干涉法实现的现场监测进行平坦化刻蚀的方法有效

专利信息
申请号: 02821836.1 申请日: 2002-10-30
公开(公告)号: CN1582490A 公开(公告)日: 2005-02-16
发明(设计)人: 琳达·布拉里;瓦希德·瓦赫迪;爱瑞克·艾德博格;艾伦·米勒 申请(专利权)人: 拉姆研究公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/321
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了一种在衬底中进行凹槽刻蚀操作的方法,其包括:在衬底上形成硬掩膜,并且利用该硬掩膜在衬底中刻蚀出沟槽,在硬掩膜之上和该沟槽中形成介电层,该介电层衬垫该沟槽。然后将导电材料涂敷在介电层之上,使得该导电材料覆盖在该硬掩膜之上并填充该沟槽,对该导电材料进行刻蚀以基本上使导电材料平坦。在即将把所有的导电材料从覆盖硬掩膜的介电层上去除之前,导电材料的刻蚀触发终点。对导电材料进行凹槽刻蚀,以去除覆盖硬掩膜的介电层上的导电材料,并且从沟槽中去除至少一部分导电材料。
搜索关键词: 凹槽 刻蚀 之前 通过 干涉 实现 现场 监测 进行 平坦 方法
【主权项】:
1.一种在衬底中进行凹槽刻蚀操作的方法,包括:a)在衬底上形成硬掩膜;b)利用该硬掩膜在衬底中刻蚀出沟槽;c)在该硬掩膜上和该沟槽中形成介电层,该介电层构造为衬垫该沟槽;d)将导电材料涂敷在介电层上,使得该导电材料覆盖该硬掩膜并填充该沟槽;e)对该导电材料进行刻蚀,以基本上使导电材料平坦,该导电材料的刻蚀设置为,在即将从覆盖硬掩膜的介电层上去除所有的导电材料之前触发终点;并且f)对该导电材料进行凹槽刻蚀,以去除覆盖硬掩膜的介电层上的导电材料,并且从沟槽中去除至少一部分导电材料。
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