[发明专利]高频检测方法及高频检测电路有效
申请号: | 02821878.7 | 申请日: | 2002-08-01 |
公开(公告)号: | CN1582396A | 公开(公告)日: | 2005-02-16 |
发明(设计)人: | 渡边慎一;佐伯登 | 申请(专利权)人: | 巴尔工业株式会社 |
主分类号: | G01R21/01 | 分类号: | G01R21/01 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的高频检测电路,在将具有第一频率(f)的第一高频功率与具有比第一频率(f)低的第二频率(f1)的第二高频功率向一个负载(7)供给的高频电源装置中,用于检测有关第一高频功率的信息,由方向性耦合器(12),检测作为具有第一频率(f)的第一高频信号与具有第二频率(f1)的第二高频信号的混合信号的第三高频信号(V1),采用外差方式将其第三高频信号(V1)变换成具有第一以及第二频率(f、f1)之间的第三频率(Δf)的第四高频信号(V1’),根据该第四高频信号(V1’)检测第一频率(f)的前进波功率(Pf)。 | ||
搜索关键词: | 高频 检测 方法 电路 | ||
【主权项】:
1.一种高频检测方法,在将具有第一频率(f)的第一高频功率与具有比第一频率(f)低的第二频率(f1)的第二高频功率向一个负载(7)供给的高频电源装置中,用于检测有关所述第一高频功率的信息,其特征在于,包含:第一步骤,在所述高频电源装置的规定节点,检测作为具有所述第一频率(f)的第一高频信号与具有所述第二频率(f1)的第二高频信号的混合信号的第三高频信号(V1);第二步骤,生成具有从所述第一频率(f)向高频侧或低频侧仅偏离所述第一以及第二频率(f、f1)之间的第三频率(Δf)后的频率(f+Δf)的基准信号(VR);第三步骤,生成由所述第一步骤检测的第三高频信号(V1)和由所述第二步骤生成的基准信号(VR)的混合信号(V1×VR);第四步骤,从由所述第三步骤生成的混合信号(V1×VR)抽出具有所述第三频率(Δf)的第四高频信号(V1’);以及第五步骤,根据由所述第四步骤抽出的第四高频信号(V1’),检测有关所述第一高频功率的信息(Pf)。
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