[发明专利]光学装置的制造方法、通过该方法而制造的光学装置、以及备有该光学装置的投影仪有效
申请号: | 02822352.7 | 申请日: | 2002-09-10 |
公开(公告)号: | CN1585913A | 公开(公告)日: | 2005-02-23 |
发明(设计)人: | 北林雅志 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G03B21/14 | 分类号: | G03B21/14;G03B21/00;H04N9/31 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 胡强;杨松龄 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在制造具有多个光调制装置及色合成光学系统的光学装置时,取得投影光学系统的光学特性,取得光调制装置的基准位置,基于预先取得的光学特性而算出光调制装置的偏差量,一边检测来自于色合成光学系统的合成光一边根据偏差量进行光调制装置的位置调整。 | ||
搜索关键词: | 光学 装置 制造 方法 通过 以及 备有 投影仪 | ||
【主权项】:
1.一种光学装置的制造方法,是制造备有多个光调制装置与色合成光学系统的光学装置的光学装置的制造方法,所述光调制装置根据图像信息而按照各色光来调制多个色光,所述色合成光学系统具有安装了各光调制装置的多个光入射端面以及对入射到各光入射端面的色光进行合成并射出的光射出端面,其特征在于:包括:光学特性取得步骤,取得与所述光学装置所组合的投影光学系统的光学特性;基准位置取得步骤,取得所述光调制装置相对于所述色合成光学系统的基准位置;偏差量算出步骤,基于取得的所述投影光学系统的光学特性,算出所述光调制装置相对于基准位置的偏差量;合成光检测步骤,使用光束检测装置对从所述光射出端面射出的合成光进行检测;光调制装置位置调整步骤,一边用该合成光检测步骤检测合成光一边根据所述偏差量进行前述光调制装置的位置调整。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02822352.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:附件型GPS接收器
- 下一篇:用于使卷帘初始化的方法