[发明专利]存储器测试无效
申请号: | 02822437.X | 申请日: | 2002-10-30 |
公开(公告)号: | CN1585987A | 公开(公告)日: | 2005-02-23 |
发明(设计)人: | 卡马尔·麦钱特;弗兰克·迈耶 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G06F11/10;G06F11/22 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;马莹 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于运行和/或测试存储器的方法和装置,其可以在运行期间省时地测试半导体存储器。在该用于测试具有存储器单元(1)的存储器(2)的方法中,根据为各存储器单元(1)配置的可变参数和各存储器单元(1)的内容,分别为各存储器单元(1)形成第一检查信息。 | ||
搜索关键词: | 存储器 测试 | ||
【主权项】:
1.一种用于运行和/或测试具有存储器单元(1)的存储器(2)的方法,其中,根据为各存储器单元(1)配置的可变参数和各存储器单元(1)的内容,为该存储器单元(1)分别形成第一检查信息。
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