[发明专利]校准微阵列有效
| 申请号： | 02822956.8 | 申请日： | 2002-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN1589404A | 公开（公告）日： | 2005-03-02 |
| 发明（设计）人： | J·V·拉蒙;R·I·麦康尼尔;S·P·菲茨杰拉德;M·L·罗德里盖茨 | 申请（专利权）人： | 兰道克斯实验有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 刘晓东 |
| 地址： | 英国安*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种用于测定样品中的第一分析物含量的分析方法，包括以下步骤：(i)使样品与含有一个或多个第一反应位点和系列第二反应位点的装置接触，其中所述第一反应位点含有对第一分析物具有亲和力的第一配体，所述系列第二反应位点含有各种已知浓度的固定化的第二分析物；(ii)除去未结合的第一分析物；(iii)使所述装置与第二配体和第三配体接触，其中所述第二配体进行了检测性标记并且对第一分析物具有亲和力，所述第三配体进行了检测性标记并且对第二分析物具有亲和力；(iv)除去未结合的第二和第三配体；和(v)测定第二和第三配体的含量，其中第三配体的测定被用来建立校准曲线，该校准曲线被用于测定存在于样品中的第一分析物的含量。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 阵列 | ||
【主权项】：
1.一种支持物物质，含有第一离散反应位点的阵列以及一系列第二反应位点，每个第一反应位点包含固定化的第一分析物或对第一分析物具有亲和力的配体，第二反应位点含有不同已知浓度的固定在所述支持物上的第二分析物。
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