[发明专利]半导体器件,卡,系统以及初始化和检验半导体器件的真实性和身份的方法有效
| 申请号： | 02823598.3 | 申请日： | 2002-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN1596471A | 公开（公告）日： | 2005-03-16 |
| 发明（设计）人： | P·E·德乔赫;E·罗克斯;R·A·M·沃特斯;H·L·皮克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/58 | 分类号： | H01L23/58;G06K19/073 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;梁永 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明的半导体器件包括一种由钝化结构(50)覆盖的电路。半导体器件设置有包括钝化结构(50)的局部区域的第一和第二安全元件(12A，12B)，并设置有第一和第二电极。安全元件(12A，12B)分别具有阻抗彼此不同的第一和第二阻抗。因为钝化结构具有在该电路之上横向变化的有效介电常数，由此实现本发明的半导体器件。通过测量装置测量阻抗的实际值并通过传送装置将阻抗的实际值转送到存取器件。存取器件包括或有权访问存储阻抗的中央数据库器件。而且，存取器件还可以用存储的阻抗值与实际值比较，以检验半导体器件的真实性或身份。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 系统 以及 初始化 检验 真实性 身份 方法 | ||
【主权项】：
1、一种半导体器件(11)，设置有包括有源元件(33，43)的电路，该电路设置在衬底(31)的一面(32)处并由钝化结构(50)覆盖，该半导体器件(11)还设置有第一安全元件(12A)并设置有第二安全元件(12B)，第一安全元件(12A)包括钝化结构(50)的第一局部区域并具有第一阻抗，第二安全元件(12B)包括钝化结构(50)的第二局部区域并具有第二阻抗，每一个安全元件(12A，12B)设置有第一和第二电极(14，15)，其特征在于：设置用于测量第一和第二阻抗的实际值的测量装置(4)；以及设置用于将实际值转送到外部存取器件(2)的传送装置(6)，该存取器件包括或有权访问中央数据库器件(3)。
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