[发明专利]双重三光点光学扫描设备无效
| 申请号： | 02825979.3 | 申请日： | 2002-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN1608288A | 公开（公告）日： | 2005-04-20 |
| 发明（设计）人： | P·T·尤特;P·库普斯;R·R·德雷滕 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/13 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 邹光新;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于对双波长光学扫描设备的径向跟踪误差进行检测的辐射检测器阵列。用于对两种不同波长中的每一种实施三光点径向跟踪误差检测的三光点检测器(100、102、104)。附属光点检测器(102、104)被分成三个检测器元件并且根据当前用于扫描的波长切换到一个检测器元件。 | ||
| 搜索关键词： | 双重 三光 光学 扫描 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于当利用两种不同波长中的任意一种扫描光学记录载体时进行径向跟踪误差检测的辐射检测器阵列，所述阵列包括多个光点检测器，用于检测分别形成了第一和第二组光点的第一和第二组辐射束，第一和第二组光点对应于不同的衍射级，包括零级和第n级，n为大于等于1的整数，所述的每个光点检测器被设置用于检测由所述光束形成的光点的特性，所述的每个光点检测器包括多个用于检测光点中的不同部分的检测器元件，所述阵列包括基本上设置于中心的零级光点检测器，在其每一侧设置了第n级光点检测器，其特征在于，所述第n级光点检测器被设置用于对第一组光点和第二组光点实施径向跟踪误差检测，在第一组光点中第n级光点具有相对于零级光点的第一预定间隔特性，在第二组光点中第n级光点具有相对于零级光点的不同的第二预定间隔特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02825979.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
