[发明专利]三层横梁MEMS器件及相关方法有效
申请号: | 02826975.6 | 申请日: | 2002-11-08 |
公开(公告)号: | CN1695233A | 公开(公告)日: | 2005-11-09 |
发明(设计)人: | 肖恩·J·坎宁安;斯韦特兰娜·塔蒂克-卢奇克 | 申请(专利权)人: | 图恩斯通系统公司;维斯普瑞公司 |
主分类号: | H01L21/302 | 分类号: | H01L21/302;H01L21/4763;H01P1/10;H01H57/00;H02B1/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于制造三层横梁MEMS器件的方法,包括:在衬底上淀积牺牲层(310),和移去牺牲层(310)上的第一导电层的一部分来形成第一导电微型结构(312);在第一导电微型结构(312)、牺牲层(310)和衬底(300)上淀积结构层(322),并且形成一个穿过结构层(322)到达第一导电微型结构(312)的通路;在结构层(322)上和通路中淀积第二导电层(336);通过移去第二导电层(336)的一部分来形成第二导电微型结构(324),其中第二导电微型结构(324)通过该通路与第一导电微型结构(312)电通信;并且移去足够量的牺牲层(310)以使第一导电微型结构(312)和该衬底分开,其中在第一端由衬底支撑结构层(322)且在相对的第二端在衬底的上方自由悬挂。 | ||
搜索关键词: | 三层 横梁 mems 器件 相关 方法 | ||
【主权项】:
1、一种制造三层横梁的方法,包括:(a)在衬底上淀积一个牺牲层;(b)在该牺牲层上淀积第一导电层;(c)通过除去该第一导电层的一部分而形成第一导电微型结构;(d)在该第一导电微型结构和该牺牲层上淀积一个结构层;(e)形成穿过该结构层到达该第一导电微型结构的通路;(f)在该结构层上和该通路中淀积第二导电层;(g)通过除去该第二导电层的一部分形成第二导电微型结构,其中该第二导电微型结构通过该通路与该第一导电微型结构进行电通信;和(h)除去足够量的该牺牲层,以分隔该第一导电微型结构和该衬底,其中该结构层在第一端由该衬底支撑,并且在相对的第二端,该结构层自由悬挂在该衬底之上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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