[发明专利]试验片分析装置有效

专利信息
申请号: 02826990.X 申请日: 2002-11-18
公开(公告)号: CN1613008A 公开(公告)日: 2005-05-04
发明(设计)人: W·齐格勒 申请(专利权)人: 奎德尔股份有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N35/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 张民华
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一诸试验片分析装置包括:一外壳;一用来接受一被分析的试验片的插入工位;一用来测量试验片的光学测量单元;一运输装置,用来在试验片要求的反应时间段内将试验片从所述的插入工位运输到光学测量单元;以及,用来评价试验片的测量结果的分析单元,其中,运输装置包括第一和第二运输部分,它们通过一连接区域互连并彼此可独立地被驱动,使第一运输部分形成为能以较高的第一运输速度从插入工位运输试验片到连接区域,而第二运输部分形成为能以较慢的第二运输速度从连接区域运输该试验片到光学测量单元。
搜索关键词: 试验 分析 装置
【主权项】:
1.一种试验片分析装置,它用来分析具有至少一个试验域的细长的试验片,检测其中的物质,由此,至少一个试验域的折射率或透射率在特定的反应时间过程中依赖于被检测物质的浓度水平而变化,所述装置包括:一外壳;一插入工位,用来接受一被分析的试验片;一光学测量单元,用来测量试验片;一运输装置,用来在试验片要求的反应时间段内将试验片从插入工位运输到光学测量单元,其中,运输装置包括第一和第二运输部分,它们通过一连接部分互连并彼此可独立地被驱动,使第一运输部分形成为能以较高的第一运输速度从插入工位运输试验片到连接区域,而第二运输部分形成为能以较慢的第二运输速度从连接区域运输该试验片到光学测量单元。
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