[发明专利]磁记录介质和磁存储装置无效

专利信息
申请号: 02828087.3 申请日: 2002-03-29
公开(公告)号: CN1620687A 公开(公告)日: 2005-05-25
发明(设计)人: 安东尼·阿扬 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B5/66 分类号: G11B5/66
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 磁记录介质和磁存储装置。一种磁记录介质,其包括:基础结构;以及合成亚铁磁结构,设置在所述基础结构上,并且形成一记录层。该合成亚铁磁结构至少包括一底部磁层和一顶部磁层,该底部磁层和顶部磁层通过一非磁性间隔层反铁磁地耦合。该底部磁层由超顺磁层制成,而该顶部磁层由铁磁材料制成。在外部施加的磁场为零的剩磁状态下,所述底部磁层和所述顶部磁层的磁矩方向为反向平行。其实现是因为尽管矫顽力对于底部磁层为零,但是由于在剩磁状态下的交换耦合而导致底部磁层处于反饱和状态。
搜索关键词: 记录 介质 存储 装置
【主权项】:
1.一种磁记录介质,其包括:基础结构;以及合成亚铁磁结构,设置在所述基础结构上,并且形成一记录层,所述合成亚铁磁结构至少包括一底部磁层和一顶部磁层,该底部磁层和顶部磁层通过一非磁性间隔层反铁磁地耦合,其中所述底部磁层由超顺磁层制成,而所述顶部磁层由铁磁性材料制成,并且在外部施加的磁场为零的剩磁状态下,所述底部磁层和所述顶部磁层的磁矩方向为反向平行。
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