[发明专利]电子部件试验装置无效
| 申请号： | 02828489.5 | 申请日： | 2002-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN1623096A | 公开（公告）日： | 2005-06-01 |
| 发明（设计）人： | 奥田广;清川敏之;中岛治希 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 使保持被试验IC的把持侧接触臂(317)位于调节装置(320)的调节用CCD照相机(326)的光轴(OP)上，把该被试验IC插入到形成在调节用可动部分(321)上的第1开口部分(321a)中，使把持侧接触臂(317)的搭接用构件(317d)搭接到调节可动部分(321)上，而且，由照相机(326)拍摄，通过进行图像处理计算用于被试验IC的位置修正的调节量，使第1接触臂(315a1)具备的锁定/释放单元(318)成为非约束状态，根据该调节量驱动可动部分驱动装置(322)，通过使搭接在调节用可动部分(321)上的把持侧接触臂(317)相对于基底侧接触臂(316)移动，进行被试验IC的位置调节。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子部件试验装置，具有把持被试验电子部件并且使被试验电子部件接触测试头的接触部分的第1接触臂和设置在底盘一侧使上述第1接触臂移动的移动单元，其特征在于，该电子部件试验装置还具有：拍摄由上述第1接触臂把持的状态下的被试验电子部件的第1拍摄单元；根据由上述第1拍摄单元拍摄的图像信息识别由上述第1接触臂把持的被试验电子部件对于上述接触部分的相对位置的图像处理单元；根据由上述图像处理单元识别的上述被试验电子部件对于上述接触部分的相对位置，修正把持了上述被试验电子部件的第1接触臂的位置的接触臂位置修正单元。
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