[发明专利]用于增强对痕量物质进行光谱测量的光纤谐振器中的瞬逝场暴露的方法和装置有效
| 申请号： | 02829036.4 | 申请日： | 2002-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN1628241A | 公开（公告）日： | 2005-06-15 |
| 发明（设计）人： | 凯文·K·莱曼;彼得·B·塔尔萨;保罗·拉比诺维茨 | 申请（专利权）人： | 普林斯顿大学理事会 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42;G01N21/55 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 韩宏 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提出了一种用于检测和测量气体或液体样品中的痕量物质的装置。由光纤形成的环降单元的传感器被暴露于该样品气体或液体。相干源发射辐射到光纤环中，该辐射又在输出耦合器处被接收。光纤环被耦合到传感器，该传感器使其一部分在输入端和输出端之间暴露于样品气体或样品液体。该传感器具有增强的瞬逝区域。处理器被耦合到接收器，并基于光纤环内的辐射的衰减速率确定气体或液体样品中的痕量物质的水平。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 增强 痕量 物质 进行 光谱 测量 光纤 谐振器 中的 瞬逝场 暴露 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用于检测和测量样品气体和样品液体中的至少一个中的痕量物质的装置，包括：无源光纤；与所述光纤成一直线的至少一个传感器，所述至少一个传感器使其一部分暴露于所述样品气体或样品液体；相干辐射源；耦合装置，用于i)将所述相干源所发射的辐射的一部分引入无源光纤环，以及ii)接收在所述无源光纤环中谐振的辐射的一部分；探测器，用于检测所述耦合装置接收到的辐射的水平以及响应于此生成信号；以及耦合到所述探测器的处理器，用于基于所述探测器生成的所述信号，确定所述气体样品或液体样品中的所述痕量物质的水平。
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