[发明专利]流槽和使用流槽的颗粒测量设备有效
| 申请号： | 02829685.0 | 申请日： | 2002-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN1668910A | 公开（公告）日： | 2005-09-14 |
| 发明（设计）人： | 松田朋信 | 申请（专利权）人： | 理音株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 按照本发明，提供了一种流槽，该流槽可以通过充分利用聚光透镜的会聚角而更有效地检测散射光。在通过用激光La照射在流槽内形成颗粒监测区M的流槽中，由包含在流经颗粒监测区M的试样液中的颗粒产生的散射光Ls通过聚光透镜L而会聚，以便获得包含颗粒直径的信息，内壁如此提供使得散射光Ls在充分利用聚光透镜L的会聚角θ的状态中会聚。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 颗粒 测量 设备 | ||
【主权项】：
1、一种流槽，其中通过用光照射在该流槽内形成颗粒监测区，并且由包含在流经颗粒监测区的试样液中的颗粒散射的光通过聚光装置而会聚，以便获得包含颗粒直径的信息，其中内壁如此提供，使得由颗粒散射的光在充分利用聚光装置的会聚角的状态中会聚。
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