[发明专利]低放射性核子密度测量仪

摘要

本发明提供一种核子测量仪和测试方法，用于测量位于材料表面之下较薄区层内的材料密度。该测量仪包括测量仪外壳和大致平坦的底板。在测量仪外壳内，安装具有特性原始能量、放射性不超过100微居的γ射线源，并与底板配合使所发射的γ射线通过底板进入下面的材料样品。在横向与γ射线源隔开，安装可用于量化所检测的γ射线的能级的能量可选γ射线检测器。在射线源与检测器之间设置屏蔽体，用于防止γ射线直接从射线源到达检测器。分析器与用于检测预定能谱内的γ射线计数的检测器相连，该预定能谱具有0.1MeV或者更高的下限和低于所述射线源的特性原始能量的上限。根据该分析器获得的位于预定能谱内的γ射线计数，计算样品密度。

主权项

1.一种用于测量材料密度的核子测量仪，所述测量仪包括：测量仪外壳，具有适于放置在材料样品表面上的表面；至少一个γ射线源，位于所述测量仪外壳内，具有特性原始能量和不超过100微居的总放射性，所述至少一个射线源被设置为用于通过所述外壳表面放射γ射线并使该射线进入下面的材料样品；至少一个能量可选γ射线检测器，与所述至少一个γ射线源隔开，安装在测量仪外壳内，所述γ射线检测器可用于产生表示所检测的γ射线的能级的信号；以及密度计算装置，与所述检测器相连，可用于根据所述至少一个检测器检测的其能级在γ射线的预定能谱部分内的检测信号，计算材料样品的密度值。