[发明专利]玻璃基板与IC压合偏移量检测装置及方法无效
| 申请号： | 03100659.0 | 申请日： | 2003-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN1517673A | 公开（公告）日： | 2004-08-04 |
| 发明（设计）人： | 陈长佑;刘象强;魏崇圣;黄良印;邱创文 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司;均豪精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/04 | 分类号： | G01B11/04;G02F1/1333 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘领弟 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种玻璃基板与IC压合偏移量检测装置及方法。为提供一种检测简单、快速、准确、确保检测结果一致性的液晶显示器部件检测装置及方法，提出本发明，检测装置包括设置于与IC压合后玻璃基板上方的光学镜头及以特定入射角度照射于光学镜头下方玻璃基板的侧向光源；光学镜头可视范围必须覆盖玻璃基板的反射光；检测方法系在玻璃基板接触垫与IC凸块压合后，使设置于玻璃基板上方侧向光源以特定偏斜角度照射于玻璃基板的压合区、偏移区及非压合区；再利用设置于玻璃基板上方的光学镜头接收侧向光源的反射光。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃 ic 偏移 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种玻璃基板与IC压合偏移量检测装置，其特征在于它包括设置于与IC压合后玻璃基板上方的光学镜头及以特定入射角度照射于光学镜头下方玻璃基板的侧向光源；光学镜头可视范围必须覆盖玻璃基板的反射光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司;均豪精密工业股份有限公司，未经友达光电股份有限公司;均豪精密工业股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03100659.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
