[发明专利]用于检测轧制产品形状缺陷的方法及相关装置有效
申请号: | 03100711.2 | 申请日: | 2003-01-21 |
公开(公告)号: | CN1433854A | 公开(公告)日: | 2003-08-06 |
发明(设计)人: | L·恰尼 | 申请(专利权)人: | 丹尼利自动化股份公司 |
主分类号: | B21B37/16 | 分类号: | B21B37/16 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 马江立,吴鹏 |
地址: | 意大利布*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种检测产品(10)的断面形状的缺陷(11a、11b和11c)的方法和装置,其中提供以下步骤:一个建立并记忆多个函数族的步骤,每一族描述一个相关类型的缺陷或缺陷的组合,这些缺陷可发现于与在上述产品上进行的加工有关的所观测的产品中;一个当上述产品被至少一束光照射时对由上述产品所投阴影进行尺寸测量的步骤;一个对于上述产品的一个具体尺寸区域,建立与上述阴影的尺寸的展开有关的图形表示的步骤;和一个这样的步骤,它用于比较上述图形表示和上述记忆的函数,以确定出最类似于由上述检测获得的图形表示的函数,以便对上述产品的上述断面中出现的缺陷(11a、11b和11c)的类型进行分类和确定其存在。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 轧制 产品 形状 缺陷 方法 相关 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测产品(10)的断面形状的缺陷(11a、11b和11c)的方法,其特征在于,它提供了:-一个建立并记忆多个函数族的步骤,每一族可以描述一个相关类型的缺陷(11a、11b和11c)或缺陷的组合,这些缺陷可发现于与在上述产品(10)上进行的加工有关的所观测的产品(10)中;-一个在当上述产品(10)被至少一束光照射时对由上述产品(10)所投阴影进行尺寸测量的步骤;-一个对于上述产品(10)的至少一个具体尺寸区域,建立与上述阴影的上述尺寸的展开有关的图形表示的步骤,和-一个这样的步骤,它用于比较上述图形表示和上述记忆的函数,以确定出最类似于由上述检测获得的图形表示的函数,以便对上述产品(10)的上述断面中出现的缺陷(11a、11b和11c)的类型进行分类和确定其存在。
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