[发明专利]自动测试系统无效
| 申请号： | 03100751.1 | 申请日： | 2003-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN1519567A | 公开（公告）日： | 2004-08-11 |
| 发明（设计）人： | 刘肯和;王利平;毛长根;张华良 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王一斌 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种自动测试系统，其包括：取样转换装置及微处理器。取样转换装置用以撷取待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号。微处理器用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试、复数不同的过电流保护测试及复数不同的过电压保护测试。微处理器依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种自动测试系统，其包括：一取样转换装置，用以撷取一待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号；以及一微处理器，用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试(Short)、复数不同的过电流保护测试(Over Current Protect)及复数不同的过电压保护(Over Voltage Protect)测试；其中该微处理器依一特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。
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