[发明专利]适用于集成电路芯片的信号检测方法有效
| 申请号： | 03100924.7 | 申请日： | 2003-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN1424752A | 公开（公告）日： | 2003-06-18 |
| 发明（设计）人： | 林益明;刘贞男 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;G01R31/28;H01L21/82;H01L27/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临,王志森 |
| 地址： | 台湾省台北*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种适用于集成电路芯片的信号检测方法，其中，第一集成电路芯片负责送出多个测试样本来检测第二集成电路芯片。根据本发明，第一集成电路芯片一次输出一个不同的测试样本，而第二集成电路芯片则依次接收并锁存输出的测试样本以得到接收数据，接着依据接收数据和输出测试样本，第二集成电路芯片可以决定接收数据是否正确；若接收数据有误且存在至少一个错误比特，则第二集成电路芯片会参照测试样本所属的测试型态，指示对应错误比特的信号线存在着接地弹跳噪声或电源弹跳噪声的干扰问题。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 集成电路 芯片 信号 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于集成电路芯片的信号检测方法，该方法至少包含下列步骤：一第一集成电路芯片从多个测试样本中，依次轮流输出这些测试样本中的一测试样本；一第二集成电路芯片依次接收并锁存该输出测试样本以得到一接收数据；根据该接收数据和该输出测试样本，该第二集成电路芯片决定该接收数据是否正确；若该接收数据有误且存在至少一错误比特，则该第二集成电路芯片根据这些测试样本所属的测试型态，指示对应该错误比特的一信号线存在一噪声干扰；以及重复上述步骤，直到该第一集成电路芯片将这些测试样本输出完毕。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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