[发明专利]电光装置、电子设备和电光装置的制造方法无效
| 申请号： | 03102564.1 | 申请日： | 2003-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN1438521A | 公开（公告）日： | 2003-08-27 |
| 发明（设计）人： | 藤田伸 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/133 | 分类号： | G02F1/133;G02F1/136;G09G3/36;H01L29/786 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 段承恩,陈海红 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供可以确实地检查在保持电光物质的基板上形成的多个薄膜开关元件的电特性的电光装置、电子设备和电光装置的制造方法。在液晶装置的TFT阵列基板10中，在位于像素区域10a的外周一侧的虚设像素100d的一个像素上形成检查用TFT30g的同时，以连接到其漏极区域1e上的像素电极9a为第1检查焊盘31g。在与之相邻的虚设像素中，以电连到从数据线6a延长出来的延长部分6g上的像素电极9a为第2检查焊盘32g，以在另一个相邻的虚设像素中，对于从扫描线3a延长出来的延长部分3g通过中继电极6h进行电连的像素电极9a为第3检查焊盘33g。 | ||
| 搜索关键词： | 电光 装置 电子设备 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电光装置，该装置是一种在保持电光物质的基板上，形成有具备多个薄膜开关元件的电气元件形成区域的电光装置，其特征在于：在上述电气元件形成区域内，形成有用来检查上述薄膜开关元件的特性的检查图案，和与该检查图案电连接的检查焊盘。
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