[发明专利]基于激子效应的多量子阱光调制器/探测器列阵无效

专利信息
申请号: 03102769.5 申请日: 2003-01-17
公开(公告)号: CN1518117A 公开(公告)日: 2004-08-04
发明(设计)人: 陈弘达;吴荣汉;杜云;毛陆虹;唐君;裴为华;梁琨 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14;H01L31/09;H01S5/00;G02B1/02;G02B5/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于激子效应的多量子阱光调制器/探测器列阵器件,列阵中的每个光调制器/探测器的结构相同,其中包括:一衬底;一布拉格反射镜,该布拉格反射镜制作在衬底上;一多量子阱光吸收区,该多量子阱光吸收区制作在布拉格反射镜上,该多量子阱光吸收区的面积小于布拉格反射镜的面积;一高反布拉格反射镜,该高反布拉格反射镜制作在多量子阱光吸收区上,该高反布拉格反射镜的面积与多量子阱光吸收区的面积相同;正电极制作在高反布拉格反射镜上;负电极制作在布拉格反射镜上,并在多量子阱光吸收区的一侧;三氧化硅绝缘层、淀积在器件表面。
搜索关键词: 基于 激子 效应 多量 子阱光 调制器 探测器 列阵
【主权项】:
1、一种基于激子效应的多量子阱光调制器/探测器列阵器件,列阵中的每个光调制器/探测器的结构相同,其特征在于,其中包括:一衬底;一布拉格反射镜,该布拉格反射镜制作在衬底上;一多量子阱光吸收区,该多量子阱光吸收区制作在布拉格反射镜上,该多量子阱光吸收区的面积小于布拉格反射镜的面积;一高反布拉格反射镜,该高反布拉格反射镜制作在多量子阱光吸收区上,该高反布拉格反射镜的面积与多量子阱光吸收区的面积相同;正电极制作在高反布拉格反射镜上; 负电极制作在布拉格反射镜上,并在多量子阱光吸收区的一侧;三氧化硅绝缘层、淀积在器件表面。
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