[发明专利]SOI型半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 03102938.8 申请日: 2003-01-24
公开(公告)号: CN1434518A 公开(公告)日: 2003-08-06
发明(设计)人: 山下胜重;西村久治;山崎浩務;井上真幸;佐藤嘉展 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/84
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种小型SOI型半导体装置。它是一种至少包括在绝缘膜(2)上形成的包含半导体层(3)的SOI基板(50),和在半导体层3上形成的能动型半导体元件(60)的SOI型半导体装置(1000)。在SOI型半导体装置上的能动型半导体元件(60),形成在由为斑点状分离半导体层(3)的分离区域(4)所包围的元件形成区域(70)内,在形成了能动型半导体元件(60)的元件形成区域(70)以外的半导体层(3)的一部分(80)上,形成了含有高浓度不纯物的吸收层(9),并且,在形成了能动型半导体元件(60)的元件形成区域(70)内不形成吸收层(9)。
搜索关键词: soi 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种SOI型半导体装置,至少包括:绝缘模、包含形成在上述绝缘膜上的半导体层的SOI基板、在上述半导体层上形成的能动型半导体元件的SOI型半导体装置,其中:上述能动型半导体元件,形成在为将上述半导体层分离为斑点状的分离区域所包围的元件形成区域内,上述能动型半导体元件形成前在上述元件形成区域以外的上述半导体层的一部分上,形成含有高温度不纯物的吸收层,加上,上述能动型半导体元件形成前的上述元件形成区域内,没有形成上述吸收层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03102938.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top