[发明专利]SOI型半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 03102938.8 | 申请日: | 2003-01-24 |
公开(公告)号: | CN1434518A | 公开(公告)日: | 2003-08-06 |
发明(设计)人: | 山下胜重;西村久治;山崎浩務;井上真幸;佐藤嘉展 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/84 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种小型SOI型半导体装置。它是一种至少包括在绝缘膜(2)上形成的包含半导体层(3)的SOI基板(50),和在半导体层3上形成的能动型半导体元件(60)的SOI型半导体装置(1000)。在SOI型半导体装置上的能动型半导体元件(60),形成在由为斑点状分离半导体层(3)的分离区域(4)所包围的元件形成区域(70)内,在形成了能动型半导体元件(60)的元件形成区域(70)以外的半导体层(3)的一部分(80)上,形成了含有高浓度不纯物的吸收层(9),并且,在形成了能动型半导体元件(60)的元件形成区域(70)内不形成吸收层(9)。 | ||
搜索关键词: | soi 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种SOI型半导体装置,至少包括:绝缘模、包含形成在上述绝缘膜上的半导体层的SOI基板、在上述半导体层上形成的能动型半导体元件的SOI型半导体装置,其中:上述能动型半导体元件,形成在为将上述半导体层分离为斑点状的分离区域所包围的元件形成区域内,上述能动型半导体元件形成前在上述元件形成区域以外的上述半导体层的一部分上,形成含有高温度不纯物的吸收层,加上,上述能动型半导体元件形成前的上述元件形成区域内,没有形成上述吸收层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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