[发明专利]原子光谱仪样品进入方法无效
| 申请号： | 03103223.0 | 申请日： | 2003-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN1437014A | 公开（公告）日： | 2003-08-20 |
| 发明（设计）人： | 段旭川;李鸿敏 | 申请（专利权）人： | 李学璧 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300060 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明属于分析仪器领域。本发明由以下步骤组成：(1)加热含元素的样品溶液与氢的还原反应体系，使该反应(生成氢化物)在高于室温的温度下进行。(2)使生成的氢化物从样品溶液(或残渣)中分离出来。(3)除去与分离出来的氢化物一起伴随的溶剂气雾。(4)使除去溶剂气雾后的氢化物被载气导入原子光谱仪中的原子(离子)化器中进行光谱或质谱测定。该发明用于原子光谱仪(AFS，AAS，ICP－AES，ICP－MS等)上的进样系统，不仅适用于传统上易形成氢化物的九个元素(砷，锑，铋，锗，锡，铅，硒，碲，汞)的样品分析进入，也适用于其它几十种元素(金，银，钴，钯，......等)的样品分析进入。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 光谱仪 样品 进入 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于提高(或增加)元素形成氢化物的百分率的方法，该方法应用于原子光谱仪(AFS，AAS，AES，ICP-AES，ICP-MS，等)中的样品进入系统。其特征在于该方法由以下四个步骤组成：(1)加热含元素的样品溶液与氢的还原反应体系，使该反应(生成氢化物)在高于室温的温度下进行。(2)使生成的元素氢化物从样品溶液(或残渣)中分离出来。(3)除去与分离出来的氢化物一起伴随的溶剂气雾。(4)使除去溶剂气雾后的氢化物被载气导入原子光谱仪中的原子(离子)化器中进行光谱或质谱测定。
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