[发明专利]表面状态检查方法及电路板检查装置无效

专利信息
申请号: 03103467.5 申请日: 2003-01-09
公开(公告)号: CN1431482A 公开(公告)日: 2003-07-23
发明(设计)人: 村上清;藤井良树 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/88
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 楼仙英
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种了表面状态检查方法及电路板检查装置,采用与现有技术相同的光学系统,提高对倾斜角度的分解能力,并提高的检查精度。在具备发出红、绿、蓝的各色彩光的光源(8)、(9)、(10)以不同的仰角配置的投光部4的电路板检查装置中,对于包含有焊锡部位的检查区域,从红、绿、蓝的各色成分中,抽取超过这些色成分的强度平均值的1个或2个色成分。通过该抽取处理,适合于各光源的(8)、(9)、(10)的倾斜面分别被变换成红、绿、蓝的单色深浅图像。此外,适合于光源(8)、(9)的倾斜面的边界位置变换成红和绿的混合色的深浅图像,适合于光源(9)、(10)的倾斜面的边界位置变换成绿和蓝的混合色的深浅图像。
搜索关键词: 表面 状态 检查 方法 电路板 装置
【主权项】:
1、一种表面状态检查方法,其特征在于该方法包括执行以下步骤:在对检查对象物从仰角不同的多个方向分别照射不同色彩光的照明状态下,拍摄从上述检查对象物反射的反射光的拍摄步骤;对由上述拍摄而得到的图像,分别按照包含检查对象物的图像的图像区域内的每个像素,根据各色成分的强度关系,有选择地执行抽取对应各色彩光的色成分中强度最大的一个色成分的处理,或者抽取强度最大的色成分和强度第2大的色成分的处理中的任何一个处理的步骤;以及使用表示上述图像区域内的色成分的抽取处理结果的图像数据,检查上述检查对象物的表面状态的步骤。
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