[发明专利]X射线分析仪无效
| 申请号： | 03104313.5 | 申请日： | 2003-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN1435686A | 公开（公告）日： | 2003-08-13 |
| 发明（设计）人： | 长谷川清 | 申请（专利权）人： | 精工电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 章社杲 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明旨在实现无须扩大准直仪部件的面积来得到任意大小的X射线照射区域。X射线分析仪包括用于产生原始X射线的X射线发生部件，用于从样品中检测二次X射线的X射线检测部件，以及用于限制照射样品的原始X射线的准直仪部件，其中准直仪部件设置了具有至少一个L形边缘的两个X射线屏蔽件，这两个X射线屏蔽件相互对准以形成矩形或方形的开口。设置了机构来使两个X射线屏蔽件运动，从而可以改变X射线照射区域的形状和大小。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 | ||
【主权项】：
1.一种X射线分析仪，包括：用于产生原始X射线的X射线发生部件，用于从样品中检测二次X射线的X射线检测部件，和用于限制照射所述样品的原始X射线的准直仪部件，所述准直仪部件设置了具有至少一个L形边缘的两个X射线屏蔽件，所述两个X射线屏蔽件相互对准以形成方形开口，从而限制所述样品被照射的X射线照射区域。
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