[发明专利]可正确写入数据的半导体存储装置无效

专利信息
申请号: 03104318.6 申请日: 2003-01-30
公开(公告)号: CN1459862A 公开(公告)日: 2003-12-03
发明(设计)人: 大石司 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L27/115;H01L21/8247;H01L29/78;G11C16/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 向存储单元阵列12内的非易失性存储单元MC1的存储区域L2和非易失性存储单元MC2的存储区域L1存储多个数据时,第1控制电路200导通开关电路SW52,向位线BL2供给规定的写入电位VCCW。另外,第2控制电路300导通开关电路SW61和SW63,根据各个存储单元存储的数据量,向位线BL1和BL2分别输出源极电位Vg。
搜索关键词: 正确 写入 数据 半导体 存储 装置
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,包括:行方向上排列的多根字线,列方向上排列的多根位线,配置在行方向及列方向上,各自具有至少一个存储数据的存储区域的多个存储单元,以及向上述多个存储单元写入多个数据的写入电路;上述行方向上配置的上述多个存储单元串联,其栅极与其行方向上配置的字线连接,上述多根位线与上述多个存储单元对应地连接,上述多个存储单元分别根据上述存储区域中积蓄的电荷量存储3位以上的多个数据;上述写入电路包括:位线选择电路,选择与作为写入动作的对象的存储单元连接的多根位线,电位供给电路,向上述选择的多根位线供给与上述多个数据的组合对应的多个规定电位,在上述选择的多根位线中,上述电位供给电路向与作为写入动作的对象的存储单元的漏极连接的位线供给规定的第1电位,向与作为上述写入动作的对象的存储单元的源极连接的位线供给与上述多个数据的组合对应确定的第2电位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社,未经三菱电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03104318.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top