[发明专利]缺陷存储器的管理系统无效
| 申请号： | 03104752.1 | 申请日： | 2003-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN1525326A | 公开（公告）日： | 2004-09-01 |
| 发明（设计）人： | 吴廷金 | 申请（专利权）人： | 吴廷金 |
| 主分类号： | G06F11/08 | 分类号： | G06F11/08 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨;王国权 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一缺陷管理系统，该缺陷管理系统允许使用包含多个具缺陷的记忆晶胞的存储器装置。该系统尤其适于储存串列媒体数据。该缺陷管理系统可以大大地减少制品的成本，其中该制品以固态存储器中储存相当大量的数据，如MP3播放器或MPEG－4动态影像播放器。一不可擦除存储器将存储器装置中的缺陷对映关系储存起来，其中该存储器装置以内建的自行测试(BIST)程序进行测试。所使用的系统可以以软体或硬体方式配置。此技术可以使用在多种不同的存储器中，如DRAM，快闪存储器，FeRAM及MRAM。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 存储器 管理 系统 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷管理系统，该系统包含：至少一存储器装置，此装置包含多个缺陷储存记忆晶胞；一不可擦除存储器，此存储器具有多个存储器方块，以将上述缺陷的位置储存在存储器方块内；其中该缺陷管理系统测试该缺陷存储器装置，且配置该不可擦除存储器的形态，以指示在各存储器装置中缺陷区域的位置，且在系统使用期间，检测新的缺陷，而将所检测的新缺陷加入不可擦除存储器中的缺陷对映关系中。
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