[发明专利]相位差检测方法、相位差检测装置、测距装置和成像装置无效

专利信息
申请号: 03106385.3 申请日: 2003-02-26
公开(公告)号: CN1450397A 公开(公告)日: 2003-10-22
发明(设计)人: 金光井;史吕志 申请(专利权)人: 精工精密株式会社
主分类号: G03B13/36 分类号: G03B13/36;G01C15/00;G03B19/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 付建军
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在用于检测在一对光传感器阵列上形成的图象之间的相位差的相位差检测装置中,能将徒然补偿限制到可能的限度。当补偿有效性判断单元判定对图象数据行对(IL和IR)的补偿有效时,左右差补偿单元计算作为补偿量的值,该值是将该对数据行的最大值之差和最小值之差的总和除以2,并且按计算的补偿量补偿存储器中IL和IR的差值。基于补偿的IL和IR,相关计算单元执行相关计算,并且最大相关检测单元检测最大相关度,以及基于该最大相关度,内插计算单元执行内插计算,以及在相位差检测单元处检测相位差。
搜索关键词: 相位差 检测 方法 装置 测距 成像
【主权项】:
1、一种相位差检测方法,包括:判断步骤,用于判断对图象数据行的预定补偿是否有效,该图象数据行是响应一对光传感器阵列的输出而生成的,在该对光传感器阵列上形成测量图象目标的图象;第一相位差检测步骤,用于在判定预定补偿无效的情况下根据图象数据行检测在该对传感器阵列上形成的图象之间的相位差;以及第二相位差检测步骤,用于在判定预定补偿有效的情况下执行对于该图象数据行的预定补偿,以及根据补偿后的图象数据行检测在该对传感器阵列上形成的图象之间的相位差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工精密株式会社,未经精工精密株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03106385.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top