[发明专利]改变记录操作期间光记录介质上的记录速度的装置和方法有效
| 申请号： | 03106708.5 | 申请日： | 2003-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN1452171A | 公开（公告）日： | 2003-10-29 |
| 发明（设计）人： | 高成鲁;梁胜云 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章,马莹 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于通过在记录操作期间实时分析摇摆信号而改变在光记录介质上记录的速度以便防止记录质量的恶化的装置和方法。该装置包括：信号处理单元，用于输出循环冗余检验(CRC)信号，这个信号从在记录操作期间从光记录介质输出的预凹槽中绝对时间信息查看在光记录介质上的差错的产生；速度控制单元，响应于将从信号处理单元输出的CRC信号与基准值相比较的结果而改变在记录操作期间光记录介质的记录速度。当在记录操作期间记录部分的信号质量低于可接受水平的时候，限制或降低记录速度。因此，防止了在ZCLV操作期间产生的运行时的缓冲和读入开始位置以及寻找失败的缺陷。另外，从低质量介质中检测摇摆信号的特性的差错，并改变记录速度，以便改善记录质量和在记录操作之后的光盘的可读性。 | ||
| 搜索关键词： | 改变 记录 操作 期间 介质 速度 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于改变记录速度的装置，所述装置包括：信号处理单元，用于输出循环冗余检验(CRC)信号，这个信号从在记录操作期间从光记录介质输出的预凹槽中绝对时间(ATIP)信息查看在光记录介质上的差错的产生；速度控制单元，用于响应于将从信号处理单元输出的CRC信号与一个基准值相比较的结果而改变在记录操作期间光记录介质的记录速度。
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