[发明专利]光学信息记录介质及其制造方法有效
申请号: | 03107320.4 | 申请日: | 2003-03-20 |
公开(公告)号: | CN1445767A | 公开(公告)日: | 2003-10-01 |
发明(设计)人: | 西原孝史;児岛理惠;山田升 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24;G11B7/26 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 钟守期,庞立志 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的光学信息记录介质,其特征为,至少含有一个信息层,该信息层从激光入射侧按顺序包括:含有从Zr和Hf中选择的至少1种元素(M1)、Cr和O的第1电介质膜;设在前述第1电介质膜上、通过激光的照射光学特性可逆地变化的记录膜;设在前述记录膜上、含有从Zr和Hf中选择的至少1种元素(M1)、Cr和O的第2电介质膜,前述第1电介质膜的Cr原子浓度至少为6at%以上,前述第2电介质膜的Cr原子浓度至少为9at%以上,并且,前述第2电介质膜的Cr原子浓度比前述第1电介质膜的Cr原子浓度大。 | ||
搜索关键词: | 光学 信息 记录 介质 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光学信息记录介质,是包含基板和信息层的光学信息记录介质,其特征为,前述信息层从激光入射侧按顺序包括:含有从Zr和Hf中选择的至少1种元素(M1)、Cr和O的第1电介质膜;设在前述第1电介质膜上、通过激光的照射光学特性可逆地变化的记录膜;设在前述记录膜上、含有从Zr和Hf中选择的至少1种元素(M1)、Cr和O的第2电介质膜,前述第1电介质膜的Cr原子浓度至少为6at%以上,前述第2电介质膜的Cr原子浓度至少为9at%以上,并且,前述第2电介质膜的Cr原子浓度比前述第1电介质膜的Cr原子浓度大。
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