[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 03107392.1 申请日: 2003-03-25
公开(公告)号: CN1447438A 公开(公告)日: 2003-10-08
发明(设计)人: 县政志;高桥和也;白滨政则;黑田直喜;贞方博之;西原竜二 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;G11C11/407
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种半导体存储装置,能够在用MIS晶体管作为积累电荷的装置的半导体存储装置中,提高数据的写入工作和读出工作的速度。DRAM单元10是为了由在第1晶体管11的沟道中积累电荷,由第2晶体管12和第3晶体管13传送电荷而构成的,通过交互地使用用与第2晶体管12的栅极连接的第1字线WLa和与第2晶体管12的漏极连接的第1位线BLa的路径、和用与第2晶体管12的栅极连接的第1字线WLa和与第2晶体管12的漏极连接的第1位线BLa的路径这样2条路径,可以使数据传输速度高速化。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
1.半导体存储装置,它的特征是:备有分别具有第1晶体管、源极或漏极与上述第1晶体管的源极或漏极的一部分连接的第2晶体管、源极或漏极与上述第1晶体管的源极或漏极的其它部分连接的第3晶体管的多个存储单元,上述第1晶体管将从上述第2和第3晶体管传送过来的电荷积累在沟道中。
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