[发明专利]快闪存储单元、快闪存储单元的制造方法及其操作方法无效
申请号: | 03107883.4 | 申请日: | 2003-04-01 |
公开(公告)号: | CN1534785A | 公开(公告)日: | 2004-10-06 |
发明(设计)人: | 洪至伟;许正源;吴齐山;黄明山 | 申请(专利权)人: | 力晶半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105;H01L21/8239 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种快闪存储单元,此存储单元是由基底、栅极结构、源极区、抹除栅极、抹除栅极介电层、选择栅极、选择栅极介电层与漏极区所构成。栅极结构设置于基底上,栅极结构是由穿隧氧化层、浮置栅极、栅间介电层、控制栅极以及间隙壁所构成。源极区设置于栅极结构一侧基底中。抹除栅极设置于栅极结构一侧的源极区上。抹除栅极介电层设置于抹除栅极与源极区之间。选择栅极设置于栅极结构的另一侧。选择栅极介电层设置于选择栅极与基底之间。漏极区设置于选择栅极一侧的基底中。 | ||
搜索关键词: | 闪存 单元 制造 方法 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
1.一种快闪存储单元,其特征在于,包括:一基底:一穿隧介电层,设置于该基底上;一浮置栅极,设置于该穿隧介电层上;一栅间介电层,设置于该浮置栅极上;一控制栅极,设置于该栅间介电层上;一第一间隙壁,设置于该控制栅极的侧壁与顶部;一第二间隙壁,设置于该浮置栅极侧壁;一源极区,设置于该控制栅极与该浮置栅极的一第一侧的该基底中;一抹除栅极,设置于该源极区上;一抹除栅极介电层,设置于该源极区与该抹除栅极之间;一选择栅极,设置于该控制栅极与该浮置栅极的一第二侧的侧壁上;一选择栅极介电层,设置于该基底与该选择栅极之间;以及一漏极区,设置该选择栅极一侧的该基底中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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