[发明专利]快闪存储单元、快闪存储单元的制造方法及其操作方法无效

专利信息
申请号: 03107883.4 申请日: 2003-04-01
公开(公告)号: CN1534785A 公开(公告)日: 2004-10-06
发明(设计)人: 洪至伟;许正源;吴齐山;黄明山 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L21/8239
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种快闪存储单元,此存储单元是由基底、栅极结构、源极区、抹除栅极、抹除栅极介电层、选择栅极、选择栅极介电层与漏极区所构成。栅极结构设置于基底上,栅极结构是由穿隧氧化层、浮置栅极、栅间介电层、控制栅极以及间隙壁所构成。源极区设置于栅极结构一侧基底中。抹除栅极设置于栅极结构一侧的源极区上。抹除栅极介电层设置于抹除栅极与源极区之间。选择栅极设置于栅极结构的另一侧。选择栅极介电层设置于选择栅极与基底之间。漏极区设置于选择栅极一侧的基底中。
搜索关键词: 闪存 单元 制造 方法 及其 操作方法
【主权项】:
1.一种快闪存储单元,其特征在于,包括:一基底:一穿隧介电层,设置于该基底上;一浮置栅极,设置于该穿隧介电层上;一栅间介电层,设置于该浮置栅极上;一控制栅极,设置于该栅间介电层上;一第一间隙壁,设置于该控制栅极的侧壁与顶部;一第二间隙壁,设置于该浮置栅极侧壁;一源极区,设置于该控制栅极与该浮置栅极的一第一侧的该基底中;一抹除栅极,设置于该源极区上;一抹除栅极介电层,设置于该源极区与该抹除栅极之间;一选择栅极,设置于该控制栅极与该浮置栅极的一第二侧的侧壁上;一选择栅极介电层,设置于该基底与该选择栅极之间;以及一漏极区,设置该选择栅极一侧的该基底中。
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