[发明专利]相位差检测方法、相位差检测设备、测距设备以及成象设备无效
| 申请号： | 03108234.3 | 申请日： | 2003-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN1447102A | 公开（公告）日： | 2003-10-08 |
| 发明（设计）人： | 金光史吕志 | 申请（专利权）人： | 精工精密株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B7/34;G03B13/36;G01C3/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 设法简化相位差检测装置中的补偿计算，该检测装置用于检测一对光学传感器阵列上形成的图象之间的相位差。当补偿有效行检查单元5d检查出对成对的图象数据行(IL，IR)的补偿有效时，左右差补偿单元5e计算出：每对图象数据行的最大值的差值Max和Min的差值Min求和之后再除以2，作为补偿量，并用计算出来的补偿量补偿存储器5b中IL和IR的差值。根据补偿的IL和IR，相关计算单元5f进行相关计算，而最大相关检测单元5g检测最大相关电平，并根据最大相关电平内插计算单元5h进行内插计算，相位查检测单元5i检测到相位差。 | ||
| 搜索关键词： | 相位差 检测 方法 设备 测距 以及 成象 | ||
【主权项】：
1.一种相位差检测方法，包括：补偿步骤，根据每对图象数据行中的最大图象数据的差值和每对图象数据行中的最小图象数据的差值来补偿该对图象数据行的差值，该对数据行由响应于一对其上形成有物体的象的光学传感器阵列的输出而生成的多个图象数据组成；检测步骤，根据补偿后的该对图象数据行，检测该对光学传感器阵列上所成的图象之间的相位差。
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