[发明专利]双层双面平面微线圈制作无效
申请号: | 03111310.9 | 申请日: | 2003-03-26 |
公开(公告)号: | CN1533017A | 公开(公告)日: | 2004-09-29 |
发明(设计)人: | 梁静秋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H02K15/04 | 分类号: | H02K15/04;H02K15/08 |
代理公司: | 长春科宇专利代理有限责任公司 | 代理人: | 梁爱荣 |
地址: | 130022吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明属于微机械构件,涉及双层双面平面微线圈的制作步骤如下:硅片双面抛光,双面氧化,双面光刻、腐蚀形成通孔;双面生长电铸阴极,厚胶双面光刻、电铸,形成上、下一层微线圈及通孔引线,去胶;进行第二次厚胶双面光刻后电铸磁芯;去胶,刻蚀掉电铸阴极;双面光刻形成绝缘层,双面溅射电铸阴极;进行第三次厚胶双面光刻、电铸形成上、下二层微线圈,去胶;进行第四次厚胶双面光刻、电铸形成上、下附加磁芯;去胶及电铸阴极;制作双面保护层。本发明提供了一种平面微线圈的电磁力大、减少了体积的双层双面平面微线圈制作方法。采用本发明制造的平面电磁微电机可应用于工业、航天、军事、医学及科学研究等领域。 | ||
搜索关键词: | 双层 双面 平面 线圈 制作 | ||
【主权项】:
1、双层双面平面微线圈制作,其特征在于:其制作步骤如下:a、首先将硅片双面抛光;b、在硅片的上、下表面各生长一层薄膜;c、用普通光刻胶双面光刻、腐蚀上述的薄膜形成腐蚀窗口;d、对上述腐蚀窗口处的硅进行腐蚀形成通孔;e、对步骤d双面生长金属薄膜作为上、下一层电铸阴极;f、对步骤e进行第一次厚胶双面光刻,显影后形成上、下一层微线圈胶模;g、对步骤f精密脉冲电铸,形成上、下一层微线圈及通孔引线;h、去除步骤g光刻胶;i、对步骤h进行第二次厚胶双面光刻,光刻胶遮盖微线圈而使通孔引线暴露出来;j、在步骤i通孔引线的内壁电铸形成坡莫合金磁芯结构;k、去除步骤j双面的光刻胶,并刻蚀掉步骤e生长的上、下一层电铸阴极;l、在步骤k的上、下表面光刻形成上、下绝缘层; m、在步骤l的上、下表面再次溅射金属薄膜作为上、下二层电铸阴极;n、在步骤m的上、下表面进行第三次厚胶双面光刻,显影后形成上、下二层微线圈胶模,然后电铸形成上、下二层微线圈,去除光刻胶;o、在步骤n的上、下表面进行第四次厚胶双面光刻,显影后电铸形成坡莫合金上、下附加磁芯;p、去除步骤o的光刻胶及上、下二层电铸阴极;q、在步骤p的上、下表面制作上、下保护层。
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