[发明专利]一种集成电路边界扫描测试装置有效

专利信息
申请号: 03113382.7 申请日: 2003-05-01
公开(公告)号: CN1542459A 公开(公告)日: 2004-11-03
发明(设计)人: 程智刚 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G01R31/30 分类号: G01R31/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057深圳市南山区高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种集成电路边界扫描测试装置,属于通信电子领域印制电路板上的集成电路测试领域。是利用计算机并行口进行边界扫描测试的装置,包括:底层接口模块;初试化模块;测试向量产生模块;测试模块;故障分析与定位模块;JTAG硬件接口模块;PCB网表文件分析模块;边界扫描描述语言文件分析模块。充分利用PC机本身的资源,即通过编制PC边界扫描应用程序和PC机并行口,同时辅助以JTAG接口硬件装置,来对待测设备进行边界扫描测试。不仅能够对待测PCB板上的器件进行边界扫描测试,而且能够对整个PCB板进行边界扫描测试。该装置成本低,能够提高PCB板生产的合格率,大大提高PCB板生产可测试性。
搜索关键词: 一种 集成电路 边界 扫描 测试 装置
【主权项】:
1、一种集成电路边界扫描测试装置,包括:底层接口模块,实现对Windows下底层硬件的驱动,使得应用程序能够对底层的硬件端口进行读写操作;初试化模块,实现对计算机并行口和测试逻辑的初试化,同时对定义的缓冲区进行初试化,以及对计算机并行口验证;测试向量产生模块,根据相关的测试向量生成算法来自动生成测试向量文件;测试模块,将测试测试向量输入到待测的印制电路板,读出测试结果;故障分析与定位模块,根据测试结果,给出故障类型和定位故障所在的位置;边界扫描标准硬件接口模块,实现对边界扫描标准接口信号的驱动和隔离。
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