[发明专利]一种对负温度系数热敏电阻进行测试的电路无效
| 申请号： | 03113578.1 | 申请日： | 2003-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN1445555A | 公开（公告）日： | 2003-10-01 |
| 发明（设计）人： | 骆秋辉;冯大明;张云成 | 申请（专利权）人： | 惠州市蓝微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人： | 罗晓林 |
| 地址： | 51600*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种对负温度系数热敏电阻进行测试的电路，包括串接在恒压源上的标准NTC电阻R、待测NTC电阻RX。电阻R、RX与电位器RV1组成桥式联接，R、RX、RV1均与电压跟随器U1A联接并入地，U1A还与差分放大器U2联接并入地。作为电位器的RV1与电阻R1串联后与U2联接，U2还与电阻R3并联并与包括运算器U3A、U3B的提供电压参数的双限电压检测电路联接。本发明采用间接测试方案，不直接检测被测对象的绝对值，而只从比较或对比的角度去检测其与母体间的相对值，因而检测结果准确、稳定，检测精度高，几乎不受环境因素的影响；恒压源的检测电路集成化高，线路设计简单明快，成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 系数 热敏电阻 进行 测试 电路 | ||
【主权项】：
1、一种对负温度系数热敏电阻进行测试的电路，其特征是包括标准NTC电阻R、待测NTC电阻RX及恒压源，R及RX串接在恒压源上。
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