[发明专利]纳秒脉冲大电流的测试装置和方法无效
| 申请号： | 03116345.9 | 申请日： | 2003-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN1442700A | 公开（公告）日： | 2003-09-17 |
| 发明（设计）人： | 陈建文;高鸿奕;谢红兰;熊诗圣;徐至展 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01R29/02 | 分类号： | G01R29/02;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种纳秒脉冲大电流的测试装置和方法，其装置包括放电室，紧靠该放电室设置法拉第旋转体和Rogowski线圈，在法拉第旋转体轴线的两端设置一对正交的尼科耳棱镜，还有激光器、示波器、干涉滤光片和光电倍增管测试系统，该激光器发出的激光束可经尼科耳棱镜、法拉第旋转体并通过干涉滤光片进入光电倍增管测试系统，而Rogowski线圈则与示波器相连。利用该装置进行纳秒脉冲大电流的测试方法：放电室未工作之前，调整尼科耳棱镜相互正交，使光电倍增管测试系统中无任何激光信号；放电室开始工作，放电回路产生大电流，伴随大电流产生强磁场，这个强磁场使旋光体产生一偏转角，利用光电倍增管测试系统测量放电电流波形；用Rogowski线圈和示波器测量放电电流的幅值。 | ||
| 搜索关键词： | 脉冲 电流 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种纳秒脉冲大电流的测试装置，其特征在于它由激光器(1)、尼科耳棱镜(3、7)、法拉第旋转体(4)、放电室(5)、Rogowski线圈(6)、示波器(8)、干涉滤光片(9)和光电倍增管测试系统(10)组成，紧靠该放电室(5)设置法拉第旋转体(4)和Rogowski线圈(6)，在法拉第旋转体(4)轴线的两端设置一对正交的尼科耳棱镜(3、7)，激光器(1)发出的激光束可经尼科耳棱镜(3)、法拉第旋转体(4)和尼科耳棱镜(7)并通过干涉滤光片(9)进入光电倍增管测试系统(10)，而Rogowski线圈(6)则与示波器(8)相连。
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