[发明专利]在集成电路卡中的安全保护装置无效
| 申请号： | 03116551.6 | 申请日： | 2003-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN1540525A | 公开（公告）日： | 2004-10-27 |
| 发明（设计）人： | 印义中;印义言;郭俊;黄萍 | 申请（专利权）人： | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F12/14 | 分类号： | G06F12/14;G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海开祺专利代理有限公司 | 代理人： | 李兰英 |
| 地址： | 200233上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种在集成电路卡中的安全保护装置，包括主电路(13)，主电路中的CPU(131)，测试模式端口(14)，反相器(16)，内熔丝装置(12)。所述的测试模式端口(14)通过反相器(16)与内熔丝装置(12)连接，内熔丝装置(12)在主电路中的CPU(131)的控制下对所述的主电路13进行测试模式的测试或者关闭测试模式进入正常操作模式。本发明的有益效果是：当集成电路卡测试结束划片、封闭后，卡片只能工作在正常操作模式而不能进入测试模式，保证了集成电路卡中数据的安全。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 路卡 中的 安全 保护装置 | ||
【主权项】：
1.一种在集成电路卡中的安全保护装置，包括主电路(13)，主电路中的CPU(131)，测试模式端口(14)，反相器(16)，其特征在于还包括：内熔丝装置(12)；所述的测试模式端口(14)通过反相器(16)与内熔丝装置(12)连接，内熔丝装置(12)在主电路中的CPU(131)的控制下对所述的主电路(13)进行测试模式的测试或者关闭测试模式进入正常操作模式。
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