[发明专利]一种垂直型大功率场效应晶体管单元结构有效
申请号: | 03116934.1 | 申请日: | 2003-05-15 |
公开(公告)号: | CN1450657A | 公开(公告)日: | 2003-10-22 |
发明(设计)人: | 徐小诚;缪炳有;陈志伟;汪激扬 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;上海华虹(集团)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陶金龙,陆飞 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明为一种垂直型N沟道金属-氧化物-半导体大功率场效应晶体管单元结构。采用N型硅外延片上刻蚀沟槽的方法,使场效应晶体管的栅氧层和金属钨栅电极位于硅外延层的沟槽之中,金属钨栅与硅片表面垂直,场效应晶体管导通工作状态下,电流流动的方向是从硅片底部的漏电极出发,流经反型沟道区,最终到达源电极,电流流动的方向是与硅片的表面方向垂直。 | ||
搜索关键词: | 一种 垂直 大功率 场效应 晶体管 单元 结构 | ||
【主权项】:
1、一种垂直型大功率场效应晶体管单元结构,其特征在于外延层由两层电阻率不同的N型薄层构成,其中电阻率低的第一外延层与硅衬底相邻,第二层外延层上刻蚀有沟槽,金属钨栅电极置于第二层外延层的沟槽之中;金属钨栅与硅片表面垂直,电流流动的方向与硅片的表面方向垂直。
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