[发明专利]电子束扫描加热温度闭环控制方法无效

专利信息
申请号: 03116992.9 申请日: 2003-05-16
公开(公告)号: CN1472613A 公开(公告)日: 2004-02-04
发明(设计)人: 姚舜;李仕民;俞海良;王学东;黄哲贇;楼松年;张毓新 申请(专利权)人: 上海交通大学;上海航天动力机械研究所
主分类号: G05D23/19 分类号: G05D23/19;G05B19/04;B23K15/00;B23K15/02
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟
地址: 20003*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种电子束扫描加热温度闭环控制方法属焊接技术领域。方法如下:通过计算机编程进行电子束焊机过程控制、温度信号采集、调节电子束流大小,在计算机程序控制下,使电子束沿设定轨迹和方式对工件进行扫描加热的同时,将由双色红外测温仪实时测得的工件加热区域检测点温度信号通过数据采集卡输入计算机与设定值比较,根据比较的结果增大或减小电子束流以维持工件上检测点温度恒定,从而实现电子束加热温度场闭环控制。本发明实现了电子束扫描加热温度场的闭环控制,测温装置具有响应快、灵敏度高、分辨率高等特点;能实现高速数据采集和处理,操作方便。本发明除可用于以电子束为热源的情况外,也适合于以其它高能束流为热源的温度闭环控制。
搜索关键词: 电子束 扫描 加热 温度 闭环控制 方法
【主权项】:
1、一种电子束扫描加热温度闭环控制方法,其特征在于,方法如下:通过计算机编程进行电子束焊机过程控制、温度信号采集、调节电子束流大小,在计算机程序控制下,使电子束沿设定轨迹和方式对工件进行扫描加热的同时,将由双色红外测温仪实时测得的工件加热区域检测点温度信号通过数据采集卡输入计算机与设定值比较,根据比较的结果增大或减小电子束流以维持工件上检测点温度恒定,从而实现电子束加热温度场闭环控制。
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