[发明专利]一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 03119630.6 申请日: 2003-03-18
公开(公告)号: CN1438355A 公开(公告)日: 2003-08-27
发明(设计)人: 朱逢吾;于广华;李海峰;杨涛;滕胶 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: C23C14/14 分类号: C23C14/14;C23C14/35;H01F10/14
代理公司: 北京科大华谊专利代理事务所 代理人: 杨玲莉
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法,涉及功能材料薄膜的制备,特别是涉及制备磁电阻薄膜。本方法是在清洗干净的玻璃基片上或单晶硅基片上沉积镍铁Ni0.81Fe0.19薄膜,将(Ni0.81Fe0.19)xCr1-x层作为种子层,x值介于0.13~0.53之间;沉积的顺序依次是1.0~12.0nm厚度的镍铁铬(Ni0.81Fe0.19)xCr1-x、10.0~200.0nm厚度的镍铁Ni0.81Fe0.19和5.0~9.0nm钽Ta。本发明由于采用体心结构的NiFeCr作为坡莫合金薄膜的一种新型种子层,其各向异性磁电阻AMR值比以传统的Ta为种子层时明显提高,最大可达34%,具有制备方便、不需要高温沉积和磁场热处理、成本低等优点。
搜索关键词: 一种 各向异性 磁电 阻坡莫 合金 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1、一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法,在磁控溅射仪中,在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上沉积镍铁Ni0.81Fe0.19,其特征在于,沉积镍铁Ni0.81Fe0.19薄膜时,将(Ni0.81Fe0.19)xCr1-x层作为种子层,x值介于0.13~0.53之间;沉积的顺序依次是1.0~12.0nm厚度的镍铁铬(Ni0.81Fe0.19)xCr1-x、10.0~200.0nm厚度的镍铁Ni0.81Fe0.19和5.0~9.0nm钽Ta。
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