[发明专利]抗反射构件无效
申请号: | 03120628.X | 申请日: | 2003-03-17 |
公开(公告)号: | CN1447134A | 公开(公告)日: | 2003-10-08 |
发明(设计)人: | 山下博司;前纳良昭 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | G02B5/00 | 分类号: | G02B5/00;G02B1/10;B29D11/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 谷惠敏,关兆辉 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的目的是,通过使抗反射处理和基片成型同时进行,以低成本提供稳定且低反射率的抗反射构件。本发明在透光性基片1的表面形成由微细的锥状突起10的连续图形组成的凹凸面,所述凹凸面相对于可见光构成0次衍射面,同时所述凹凸面的图形以模具图形的70%以上的复制率形成。 | ||
搜索关键词: | 反射 构件 | ||
【主权项】:
1.一种抗反射构件,其特征在于,在透光性基片的表面形成由微细的锥状连续图形组成的凹凸面,所述凹凸面相对于可见光构成0次衍射面,同时所述凹凸面的图形以模具图形的70%以上的复制率形成。
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