[发明专利]抗反射构件无效

专利信息
申请号: 03120628.X 申请日: 2003-03-17
公开(公告)号: CN1447134A 公开(公告)日: 2003-10-08
发明(设计)人: 山下博司;前纳良昭 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: G02B5/00 分类号: G02B5/00;G02B1/10;B29D11/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 谷惠敏,关兆辉
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的是,通过使抗反射处理和基片成型同时进行,以低成本提供稳定且低反射率的抗反射构件。本发明在透光性基片1的表面形成由微细的锥状突起10的连续图形组成的凹凸面,所述凹凸面相对于可见光构成0次衍射面,同时所述凹凸面的图形以模具图形的70%以上的复制率形成。
搜索关键词: 反射 构件
【主权项】:
1.一种抗反射构件,其特征在于,在透光性基片的表面形成由微细的锥状连续图形组成的凹凸面,所述凹凸面相对于可见光构成0次衍射面,同时所述凹凸面的图形以模具图形的70%以上的复制率形成。
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