[发明专利]光电转换装置及其制造方法有效
申请号: | 03120662.X | 申请日: | 2003-03-04 |
公开(公告)号: | CN1442909A | 公开(公告)日: | 2003-09-17 |
发明(设计)人: | 寺川朗;浅海利夫 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 赵国华 |
地址: | 日本国大阪*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种可以提高晶体硅类半导体和非晶体硅类半导体的界面特性,改善结合特性的光电转换装置。这种光电转换装置可以按照夹持着i型非晶体硅制薄层(12)的方式,叠层设置有n型单晶体硅制基板(11)和p型非晶体硅制薄层(13),在单晶体硅制基板(11)的内面侧处还通过i型非晶体硅制薄层(14),设置有n型非晶体硅制薄层(15),而且在单晶体硅制基板(11)与i型非晶体硅制薄层(12)、(14)间的界面处,存在有其浓度比i型非晶体硅制薄层(12)、(14)中的氧原子浓度高的氧原子。 | ||
搜索关键词: | 光电 转换 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光电转换装置,其特征在于具有一种导电型的导入有杂质的晶体类半导体,形成在所述导电型晶体类半导体上的、基本上为真正的非晶体类半导体薄膜,以及形成在这种基本上为真正的非晶体类半导体薄膜上的、同种导电型的导入有杂质或其他种导电型杂质的非晶体类半导体薄膜,而且在由所述晶体类半导体和基本上为真正的非晶体类半导体薄膜形成的界面处,还使减少所述基本上为真正的非晶体类半导体薄膜的平均配位数目用的原子浓度比主体中的浓度高。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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