[发明专利]具有抑制背反射杂光的光学次模块结构有效

专利信息
申请号: 03121603.X 申请日: 2003-03-14
公开(公告)号: CN1530709A 公开(公告)日: 2004-09-22
发明(设计)人: 陈文宗;杨建成;张俊杰;李俊德;张志贤;陈正大;彭保仁 申请(专利权)人: 创威光电股份有限公司
主分类号: G02F1/13357 分类号: G02F1/13357;H01L33/00;G02B6/42
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 潘培坤;楼仙英
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明涉及一种具有抑制背反射杂光的光学次模块结构,该结构包括:一光源,发射光束;一光波导,接收光源的光束,使该核芯层再将光束继续向前传送;以及一耦光模块,由至少一个可透光组件构成,此耦光模块置于光源与光波导中间,使光束穿过该耦光模块而有效地耦合至该光波导核芯层中,并且有抑制背反射杂光的功能;本发明的光学次模块结构可大幅改善光学次模块本身的光电特性品质、增加其传输距离、大幅降低光收发器在封装上的困难,还可有效降低其生产成本。
搜索关键词: 具有 抑制 反射 光学 模块 结构
【主权项】:
1、一种具有抑制背反射杂光的光学次模块结构,包括:一光源,发射光束;一光波导,接收光源的光束,由该光波导的核芯层再将光束继续向前传送;以及一耦光模块,由至少一个可透光组件构成,此耦光模块置于光源与光波导中间,使光束穿过该耦光模块而有效地耦合至该光波导核芯层中,并且有抑制背反射杂光的功能。
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